टंगस्टन रॉड
रासायनिक संरचना:
मुख्य और गौण घटक | न्यूनतम सामग्री(%) | एएसटीएम बी760 |
W | 99.95 | संतुलन |
अशुद्धियों | अधिकतम मान (μg/g) | अधिकतम मान (μg/g) |
Al | 15 | - |
Cu | 10 | - |
Cr | 20 | - |
Fe | 30 | 100 |
K | 10 | - |
Ni | 20 | 100 |
Si | 20 | 100 |
Mo | 100 | - |
C | 30 | 100 |
H | 5 | - |
N | 5 | 100 |
O | 20 | 100 |
Cd | 5 | - |
Hg | 1 | - |
Pb | 5 | - |
व्यास और सहनशीलता:
व्यास (मिमी) | सहनशीलता | |||
सीधा | जाली | बदल गया | मैदान | |
0.50-0.99 | - | - | ±0.007 | |
1.00-1.99 | - | - | ±0.010 | |
2.00-2.99 | ±2.0 % | - | ±0.015 | |
3.00-15.9 | - | - | ±0.020 | |
16.0-24.9 | - | ±0.30 | ±0.030 | |
25.0-34.9 | - | ±0.40 | ±0.050 | |
35.0-39.9 | - | ±0.40 | ±0.30 | ±0.060 |
40.0-49.9 | - | ±0.40 | ±0.30 | ±0.20 |
50.0-90.0 | - | ±1.00 | ±0.40 | - |
लंबाई और सीधापन:
व्यास (मिमी) | उत्पादन की लंबाई (मिमी) | सीधापन/मीटर (मिमी) | |
साफ किया हुआ | ज़मीन/पलट | ||
0.50-10.0 | ≥500 | <2.5 | <2.5 |
10.1-50.0 | ≥300 | <2.0 | <1.5 |
50.1-90.0 | ≥100 | <2.0 | <1.5 |
लंबाई सहनशीलता:
व्यास 0.50-30.0 मिमी | ||||||
नाममात्र लंबाई (मिमी) | ≥15 | 15-120 | 120-400 | 400-1000 | 1000-2000 | >2000 |
लंबाई सहनशीलता (मिमी) | ±0.2 | ±0.3 | ±0.5 | ±2.0 | ±3.0 | ±4.0 |
व्यास >30.0 मिमी | ||||||
नाममात्र लंबाई (मिमी) | ≥30 | 30-120 | 120-400 | 400-1000 | 1000-2000 | >2000 |
लंबाई सहनशीलता (मिमी) | ±0.5 | ±0.8 | ±1.2 | ±4.0 | ±6.0 | ±8.0 |
घनत्व: ≥19.1g/cm³
गैर-विनाशकारी परीक्षण: व्यास के लिए> 15.00 मिमी: 100% अल्ट्रासोनिक परीक्षण। 0.50-50.0 मिमी के व्यास के लिए: जमीन की सतह के साथ छड़ों पर एड़ी का करंट परीक्षण।
व्यास(मिमी) | कठोरता (एचवी 10) |
0.50-2.99 | — |
3.00-9.99 | 420-500 |
10.0-29.9 | 420-480 |
30.0-49.9 | 380-460 |
≥50 | >350 |
सतह की स्थिति:
व्यास (मिमी) | सतह की स्थिति |
0.50-90.0 | रसायनिक पदार्थ से साफ किया गया |
≥40.0 | Ra ≤3.2μm हो गया |
0.50-30 | केंद्र रहित ज़मीन Ra≤1.0μm |
≥40.0 | - केंद्र रहित ज़मीन Ra≤1.2μm |
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