ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਮਿਸ਼ਰਤ ਮਿਸ਼ਰਣਾਂ ਨੂੰ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੁਆਰਾ ਸਫਲਤਾਪੂਰਵਕ ਜੋੜਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ,
ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਭਾਫ਼ ਜਮ੍ਹਾਂ ਕਰਕੇ।

ਚਾਪ ਕਾਸਟਿੰਗ, ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਜਾਂ ਰਸਾਇਣਕ-ਵਾਸ਼ਪ ਜਮ੍ਹਾ (ਸੀਵੀਡੀ) ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੁਆਰਾ ਇੱਕਤਰ ਕੀਤੇ ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਕਈ ਮਿਸ਼ਰਤ ਮਿਸ਼ਰਣਾਂ ਦੀ ਵੇਲਡਯੋਗਤਾ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਵਰਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਨਾਮਾਤਰ ਤੌਰ 'ਤੇ 0.060 ਇੰਚ ਮੋਟੀ ਸ਼ੀਟ ਸਨ। ਜੁਆਇਨਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਸਨ (1) ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ, (2) ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ, (3) ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ (4) ਸੀਵੀਡੀ ਦੁਆਰਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੋਣਾ।
ਟੰਗਸਟਨ ਨੂੰ ਇਹਨਾਂ ਸਾਰੀਆਂ ਵਿਧੀਆਂ ਦੁਆਰਾ ਸਫਲਤਾਪੂਰਵਕ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਪਰ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਆਵਾਜ਼ ਬੇਸ ਅਤੇ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਪਾਊਡਰ ਜਾਂ ਆਰਕ-ਕਾਸਟ ਉਤਪਾਦਾਂ) ਦੀਆਂ ਕਿਸਮਾਂ ਦੁਆਰਾ ਬਹੁਤ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਹੋਈ ਸੀ। ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਚਾਪ-ਕਾਸਟ ਸਮਗਰੀ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਤੋਂ ਮੁਕਤ ਸਨ ਜਦੋਂ ਕਿ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਉਤਪਾਦਾਂ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪੋਰਸ ਹੁੰਦੇ ਸਨ, ਖਾਸ ਕਰਕੇ ਫਿਊਜ਼ਨ ਲਾਈਨ ਦੇ ਨਾਲ। 1/1r ਵਿੱਚ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ (GTA) ਵੇਲਡਾਂ ਲਈ, ਬਿਨਾਂ ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਸ਼ੀਟ, 150° C ਦੀ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਪ੍ਰੀਹੀਟ (ਜੋ ਕਿ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦਾ ਡਕਟੀਲੀਟੋ-ਭੁਰਭੁਰਾ ਪਰਿਵਰਤਨ ਤਾਪਮਾਨ ਪਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ) ਨੇ ਤਰੇੜਾਂ ਤੋਂ ਮੁਕਤ ਵੇਲਡ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ। ਬੇਸ ਧਾਤੂਆਂ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਟੰਗਸਟਨ-ਰੇਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਹੀਟ ਤੋਂ ਬਿਨਾਂ ਵੇਲਡ ਕਰਨ ਯੋਗ ਸਨ, ਪਰ ਟੰਗਸਟਨ ਅਲਾਏ ਪਾਊਡਰ ਉਤਪਾਦਾਂ ਵਿੱਚ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਵੀ ਇੱਕ ਸਮੱਸਿਆ ਸੀ। ਪ੍ਰੀਹੀਟਿੰਗ ਵੈਲਡ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਨਹੀਂ ਕਰਦੀ ਦਿਖਾਈ ਦਿੰਦੀ ਹੈ ਜੋ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੀ ਕਿਸਮ ਦਾ ਕੰਮ ਸੀ।
ਵੱਖ-ਵੱਖ ਕਿਸਮਾਂ ਦੇ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੇਲਡਾਂ ਲਈ ਡਕਟਾਈਲ-ਟੂ-ਬ੍ਰਿਟਲ ਟ੍ਰਾਂਜਿਸ਼ਨ ਟਰਨਪਰੈਚਰ (DBIT) 325 ਤੋਂ 475° C ਸੀ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਲਈ 150° C ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮਵੈਲਡ ਲਈ 425° C ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ। ਚਾਪ-ਕਾਸਟ ਟੰਗਸਟਨ.
ਵੱਖ-ਵੱਖ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਦੇ ਨਾਲ ਟੰਗਸਟਨ ਦੀ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ ਜ਼ਾਹਰ ਤੌਰ 'ਤੇ ਹੋਰ ਜੋੜਨ ਦੇ ਤਰੀਕਿਆਂ ਨਾਲੋਂ ਬਿਹਤਰ ਸੰਯੁਕਤ ਗੁਣ ਪੈਦਾ ਨਹੀਂ ਕਰਦੀ ਸੀ। ਅਸੀਂ Nb, Ta, W-26% Re, Mo ਅਤੇ Re ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਵਿੱਚ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਵਜੋਂ ਕੀਤੀ। Nb ਅਤੇ Mo ਨੇ ਭਾਰੀ ਕਰੈਕਿੰਗ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣਾਇਆ.

510 ਤੋਂ 560° C 'ਤੇ CVD ਦੁਆਰਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੋਣਾ

ਥੋੜ੍ਹੇ ਜਿਹੇ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਨੂੰ ਛੱਡ ਕੇ ਸਭ ਨੂੰ ਖਤਮ ਕਰ ਦਿੱਤਾ ਅਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਲਈ ਜ਼ਰੂਰੀ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨਾਂ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਖੇਤਰਾਂ ਵਿੱਚ ਵੱਡੇ ਅਨਾਜ) ਨਾਲ ਜੁੜੀਆਂ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਨੂੰ ਵੀ ਖਤਮ ਕਰ ਦਿੱਤਾ।
ਜਾਣ-ਪਛਾਣ
ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਟੰਗਸਟਨ-ਬੇਸ ਅਲਾਇਆਂ ਨੂੰ ਥਰਮੀਓਨਿਕ ਪਰਿਵਰਤਨ ਯੰਤਰ, ਰੀਐਂਟਰੀ ਵਾਹਨ, ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ ਵਾਲੇ ਬਾਲਣ ਤੱਤ ਅਤੇ ਹੋਰ ਰਿਐਕਟਰ ਭਾਗਾਂ ਸਮੇਤ ਕਈ ਉੱਨਤ ਪ੍ਰਮਾਣੂ ਅਤੇ ਸਪੇਸ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਲਈ ਵਿਚਾਰਿਆ ਜਾ ਰਿਹਾ ਹੈ। ਇਹਨਾਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੇ ਫਾਇਦੇ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਪਿਘਲਣ ਵਾਲੇ ਤਾਪਮਾਨਾਂ, ਉੱਚੇ ਤਾਪਮਾਨਾਂ 'ਤੇ ਚੰਗੀਆਂ ਸ਼ਕਤੀਆਂ, ਉੱਚ ਥਰਮਲ ਅਤੇ ਬਿਜਲਈ ਸੰਚਾਲਕਤਾਵਾਂ ਅਤੇ ਕੁਝ ਵਾਤਾਵਰਣਾਂ ਵਿੱਚ ਖੋਰ ਪ੍ਰਤੀ ਉਚਿਤ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਦੇ ਸੁਮੇਲ ਹਨ। ਕਿਉਂਕਿ ਭੁਰਭੁਰਾਪਨ ਉਹਨਾਂ ਦੀ ਬਣਤਰਤਾ ਨੂੰ ਸੀਮਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਸਖ਼ਤ ਸੇਵਾ ਹਾਲਤਾਂ ਦੇ ਅਧੀਨ ਢਾਂਚਾਗਤ ਹਿੱਸਿਆਂ ਵਿੱਚ ਇਹਨਾਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀ ਉਪਯੋਗਤਾ ਉਹਨਾਂ ਜੋੜਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਨ ਲਈ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੇ ਵਿਕਾਸ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦੀ ਹੈ ਜੋ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੇ ਗੁਣਾਂ ਵਿੱਚ ਤੁਲਨਾਤਮਕ ਹਨ। ਇਸ ਲਈ, ਇਹਨਾਂ ਅਧਿਐਨਾਂ ਦੇ ਉਦੇਸ਼ (1) ਕਈ ਕਿਸਮਾਂ ਦੇ ਅਣ-ਅਲੋਏਡ ਅਤੇ ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਜੋੜਨ ਦੇ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੁਆਰਾ ਪੈਦਾ ਕੀਤੇ ਜੋੜਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨਾ ਸੀ; (2) ਗਰਮੀ ਦੇ ਇਲਾਜ ਅਤੇ ਜੁਆਇਨਿੰਗ ਤਕਨੀਕ ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਸੋਧਾਂ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰੋ; ਅਤੇ (3) ਖਾਸ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਲਈ ਢੁਕਵੇਂ ਟੈਸਟ ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਬਣਾਉਣ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ ਦਾ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਕਰੋ।
ਸਮੱਗਰੀ
ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ m叮10 ਮੀ. ਮੋਟੀ ਚਾਦਰਾਂ ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਦਿਲਚਸਪੀ ਵਾਲੀ ਸਮੱਗਰੀ ਸੀ। ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਅਲੋਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਚਾਪ ਕਾਸਟਿੰਗ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ-ਵਾਸ਼ਪ ਜਮ੍ਹਾਂ ਕਰਨ ਦੀਆਂ ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੁਆਰਾ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਸਾਰਣੀ 1 ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਸੀਵੀਡੀ ਅਤੇ ਆਰਕ-ਕਾਸਟ ਟੰਗਸਟਨ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੇ ਅਸ਼ੁੱਧਤਾ ਪੱਧਰਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਅਨੁਸਾਰ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਪਾਈਆਂ ਜਾਣ ਵਾਲੀਆਂ ਰੇਂਜਾਂ ਵਿੱਚ ਆਉਂਦੇ ਹਨ

ਪਰ ਇਹ ਨੋਟ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਕਿ ਸੀਵੀਡੀ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿੱਚ ਫਲੋਰੀਨ ਦੀ ਮਾਤਰਾ ਆਮ ਨਾਲੋਂ ਵੱਧ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।
ਤੁਲਨਾ ਕਰਨ ਲਈ ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਟੰਗਸਟਨ ਮਿਸ਼ਰਤ ਦੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਆਕਾਰਾਂ ਅਤੇ ਆਕਾਰਾਂ ਨੂੰ ਜੋੜਿਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਉਨ੍ਹਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਉਤਪਾਦ ਸਨ ਹਾਲਾਂਕਿ ਕੁਝ ਚਾਪ-ਕਾਸਟ ਸਮੱਗਰੀ ਵੀ ਵੇਲਡ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ। ਬਿਲਡਿੰਗ ਸਟ੍ਰਕਚਰ ਅਤੇ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੀ ਵਿਵਹਾਰਕਤਾ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਖਾਸ ਸੰਰਚਨਾਵਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ। CVD ਟੰਗਸਟਨ ਦੇ ਅਪਵਾਦ ਦੇ ਨਾਲ ਸਾਰੇ ਮੈਟੇਨਲ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਠੰਡੇ ਕੰਮ ਵਾਲੀ ਸਥਿਤੀ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਜੋ ਕਿ ਜਮ੍ਹਾ ਕੀਤੇ ਗਏ ਵਜੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਰੀਕ੍ਰਿਸਟਾਲਾਈਜ਼ਡ ਅਤੇ ਵੱਡੇ-ਦਾਣੇ ਵਾਲੇ ਟੰਗਸਟਨ ਦੀ ਵਧਦੀ ਭੁਰਭੁਰਾਤਾ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਤਾਪ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਵਿੱਚ ਅਨਾਜ ਦੇ ਵਾਧੇ ਨੂੰ ਘੱਟ ਕਰਨ ਲਈ ਸਮੱਗਰੀ ਨੂੰ ਕੰਮ ਵਾਲੀ ਸਥਿਤੀ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਉੱਚ ਕੀਮਤ ਅਤੇ ਉਪਲਬਧ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਘੱਟ ਮਾਤਰਾਵਾਂ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਅਸੀਂ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਮੂਨੇ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਹਨ ਜੋ ਲੋੜੀਂਦੀ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ ਇਕਸਾਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਘੱਟੋ ਘੱਟ ਮਾਤਰਾ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹਨ।
ਵਿਧੀ
ਕਿਉਂਕਿ ਟੰਗਸਟਨ ਦਾ ਨਕਲੀ-ਤੋਂ-ਭੁਰਭੁਰਾ ਪਰਿਵਰਤਨ ਤਾਪਮਾਨ (DBTT) ਕਮਰੇ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਤੋਂ ਉੱਪਰ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਕਰੈਕਿੰਗ ਤੋਂ ਬਚਣ ਲਈ ਹੈਂਡਲਿੰਗ ਅਤੇ ਮਸ਼ੀਨਿੰਗ ਵਿੱਚ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਦੇਖਭਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ। ਸ਼ੀਅਰਿੰਗ ਕਾਰਨ ਕਿਨਾਰੇ ਕ੍ਰੈਕਿੰਗ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਅਸੀਂ ਪਾਇਆ ਹੈ ਕਿ ਪੀਸਣ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਡੀਸਚਾਰਜ ਮਸ਼ੀਨ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਗਰਮੀ ਦੀ ਜਾਂਚ ਛੱਡਦੀ ਹੈ। ਜਦੋਂ ਤੱਕ ਇਹਨਾਂ ਨੂੰ ਲੈਪਿੰਗ ਦੁਆਰਾ ਹਟਾਇਆ ਨਹੀਂ ਜਾਂਦਾ, ਇਹ ਚੀਰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਬਾਅਦ ਵਿੱਚ ਵਰਤੋਂ ਦੌਰਾਨ ਫੈਲ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ।
ਟੰਗਸਟਨ, ਸਾਰੀਆਂ ਰਿਫ੍ਰੈਕਟਰੀ ਧਾਤਾਂ ਦੀ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਇੰਟਰਸਟਿਸ਼ਲ ਦੁਆਰਾ ਵੇਲਡ ਦੇ ਗੰਦਗੀ ਤੋਂ ਬਚਣ ਲਈ ਅੜਿੱਕਾ ਗੈਸ (ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ) ਜਾਂ ਵੈਕਿਊਮ (ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਪ੍ਰੋ:::ess)2 ਦੇ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਸ਼ੁੱਧ ਮਾਹੌਲ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਕਿਉਂਕਿ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਸਾਰੀਆਂ ਧਾਤਾਂ (3410° C) ਦਾ ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਪਿਘਲਣ ਵਾਲਾ ਬਿੰਦੂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਵੈਲਡਿੰਗ ਉਪਕਰਣ ਉੱਚ ਸੇਵਾ ਤਾਪਮਾਨਾਂ ਨੂੰ ਸਹਿਣ ਦੇ ਸਮਰੱਥ ਹੋਣੇ ਚਾਹੀਦੇ ਹਨ।

ਸਾਰਣੀ 1

ਤਿੰਨ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ: ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ। ਹਰੇਕ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਊਰਜਾ ਇੰਪੁੱਟ 'ਤੇ ਪੂਰੀ pcnetration ਲਈ ਜ਼ਰੂਰੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਥਿਤੀਆਂ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕੀਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਸਨ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ, ਸ਼ੀਟ ਸਮੱਗਰੀ ਨੂੰ 囚in ਵਿੱਚ ਮਸ਼ੀਨ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਚੌੜੇ ਖਾਲੀ ਅਤੇ ethyl ਅਲਕੋਹਲ ਨਾਲ degreased. ਸੰਯੁਕਤ ਡਿਜ਼ਾਇਨ ਇੱਕ ਚੌਰਸ ਝਰੀ ਸੀ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਕੋਈ ਜੜ੍ਹ ਨਹੀਂ ਸੀ।
ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ
ਸਾਰੇ ਆਟੋਮੇਟੀ ਅਤੇ ਮੈਨੂਅਲ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੇਲਡ ਇੱਕ ਏਹਮਰ ਵਿੱਚ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸਨ ਜੋ 5 x I ਜਾਂ ਹੇਠਾਂ ਬਣਾਈ ਰੱਖਿਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਲਗਭਗ 1 ਘੰਟੇ ਲਈ ਟੋਰ ਅਤੇ ਫਿਰ ਬਹੁਤ ਸ਼ੁੱਧ ਆਰਗਨ ਨਾਲ ਬੈਕਫਿਲ ਕੀਤਾ ਗਿਆ। ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ। ਵਰਕਪੀਸ ਨੂੰ ਇੱਕ ਤਾਂਬੇ ਦੇ ਫਿਕਸਚਰ ਵਿੱਚ ਰੱਖਿਆ ਗਿਆ ਸੀ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਸਾਰੇ ਬਿੰਦੂਆਂ 'ਤੇ ਟੰਗਸਟਨ ਇਨਸਰਟਸ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ ਤਾਂ ਜੋ ਇਸ ਨੂੰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਬੀਟ ਦੁਆਰਾ ਕੰਮ ਵਿੱਚ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਹੋਣ ਤੋਂ ਰੋਕਿਆ ਜਾ ਸਕੇ। ਇਸ ਫਿਕਸਚਰ ਦੇ ਅਧਾਰ ਵਿੱਚ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਕਾਰਟ੍ਰੀਜ ਹੀਟਰ ਰੱਖੇ ਗਏ ਸਨ ਜੋ ਕੰਮ ਨੂੰ ਲੋੜੀਂਦੇ ਤਾਪਮਾਨ, ਚਿੱਤਰ 1 ਬੀ. ਸਾਰੇ ਵੇਲਡਾਂ ਨੂੰ 10 ਆਈਪੀਐਮ ਦੀ ਇੱਕ ਯਾਤਰਾ ਸਪੀਡ ਨਾਲ ਬਣਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ, ਲਗਭਗ 350 ਐਮਪੀ ਦੀ ਇੱਕ ਈਰੈਂਟ ਅਤੇ 10 ਤੋਂ 15 ਵੀ ਦੀ ਵੋਲਟੇਜ .
ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਏ『c ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ
ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਨੂੰ ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਦੀਆਂ ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੁਆਰਾ ਇੱਕ ਅੜਿੱਕੇ ਵਾਯੂਮੰਡਲ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਅਹੰਬਰ ਵਿੱਚ ਬਣਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ

ਜਿਹੜੇ ਉੱਪਰ ਦੱਸੇ ਗਏ ਹਨ। ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਡਬਲਯੂ—26% ਰੀ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਨਾਲ ਬਣੇ ਬੀਡ-ਆਨਪਲੇਟ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਹੱਥੀਂ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸਨ; ਹਾਲਾਂਕਿ, ਬੱਟ ਜੁਆਇੰਟ ਵਿੱਚ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਰੱਖੇ ਜਾਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਬੱਟ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਨੂੰ ਆਪਣੇ ਆਪ ਹੀ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਸੀ।
ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ
ਇਲੀਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੇਲਡ ਇੱਕ 150-kV 20-mA ਮਸ਼ੀਨ ਵਿੱਚ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸਨ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੇ ਦੌਰਾਨ ਲਗਭਗ 5 x I o-6 ਟੋਰ ਦਾ ਵੈਕਿਊਮ ਬਣਾਈ ਰੱਖਿਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਡੂੰਘਾਈ ਅਤੇ ਚੌੜਾਈ ਦੇ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਉੱਚੇ ਅਨੁਪਾਤ ਅਤੇ ਇੱਕ ਤੰਗ ਤਾਪ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।
ਰਸਾਇਣਕ ਭਾਫ਼ ਡਿਸਪੋਜੀਸ਼ਨ ਦੁਆਰਾ ਓਇਨਿੰਗ
ਟੰਗਸਟਨ ਜੋੜਾਂ ਨੂੰ ਰਸਾਇਣਕ ਭਾਫ਼ ਜਮ੍ਹਾ ਕਰਨ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ 3 ਦੁਆਰਾ ਅਲੋਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਜਮ੍ਹਾ ਕਰਕੇ ਬਣਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਪ੍ਰਤੀਕ੍ਰਿਆ-ਟੀ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ ਟੰਗਸਟਨ ਹੈਕਸਾਫਲੋਰਾਈਡ ਦੀ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਨ ਕਮੀ ਦੁਆਰਾ ਟੰਗਸਟਨ ਨੂੰ ਜਮ੍ਹਾ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ
ਗਰਮੀ
WFs(g) + 3H,(g)一–+W(s) + 6HF(g)।
ਜੁੜਨ ਲਈ ਇਸ ਤਕਨੀਕ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਲਈ ਫਿਕਸਚਰ ਅਤੇ ਰੀਐਕਟੈਂਟ ਵਹਾਅ ਵੰਡ ਵਿੱਚ ਮਾਮੂਲੀ ਤਬਦੀਲੀਆਂ ਦੀ ਲੋੜ ਸੀ। ਜੋੜਨ ਦੇ ਵਧੇਰੇ ਰਵਾਇਤੀ ਤਰੀਕਿਆਂ ਨਾਲੋਂ ਇਸ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦਾ ਮੁੱਖ ਫਾਇਦਾ ਇਹ ਹੈ ਕਿ, ਕਿਉਂਕਿ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ (510 ਤੋਂ 650 ° C) ਪਿਘਲਣ ਵਾਲੇ ਬਿੰਦੂ ਨਾਲੋਂ ਬਹੁਤ ਘੱਟ ਹੈ।

ਟੰਗਸਟਨ (3410 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ), ਅਸ਼ੁੱਧੀਆਂ ਜਾਂ ਅਨਾਜ ਦੇ ਵਾਧੇ ਦੁਆਰਾ ਗਠਿਤ ਟੰਗਸਟਨ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੀ ਮੁੜ-ਸਥਾਪਨ ਅਤੇ ਸੰਭਾਵਤ ਹੋਰ cmbrittlement ਨੂੰ ਘੱਟ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।
ਬੱਟ ਅਤੇ ਟਿਊਬ-ਐਂਡ ਬੰਦਾਂ ਸਮੇਤ ਕਈ ਸਾਂਝੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸਨ। ਡਿਪਾਜ਼ਿਸ਼ਨ ਇੱਕ ਤਾਂਬੇ ਦੇ ਮੰਡਰੇਲ ਦੀ ਸਹਾਇਤਾ ਨਾਲ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ ਜੋ ਇੱਕ ਫਿਕਸਚਰ, ਅਲਾਈਨਮੈਂਟ ਟੁਕੜੇ ਅਤੇ ਸਬਸਟਰੇਟ ਵਜੋਂ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਸੀ। ਜਮ੍ਹਾਬੰਦੀ ਪੂਰੀ ਹੋਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਈਓਪਰ ਮੈਡਰਲ ਨੂੰ ਐਚਿੰਗ ਦੁਆਰਾ ਹਟਾ ਦਿੱਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਕਿਉਂਕਿ ਹੋਰ ਕੰਮ” ਨੇ ਦਿਖਾਇਆ ਹੈ ਕਿ CVD ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਜਮ੍ਹਾ ਕੀਤੇ ਗਏ ਗੁੰਝਲਦਾਰ ਰਹਿੰਦ-ਖੂੰਹਦ ਤਣਾਅ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਇਹ ਜੋੜ ਮਸ਼ੀਨਿੰਗ ਜਾਂ ਟੈਸਟਿੰਗ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ 1000 ° ਤੋਂ 1600 ° C ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਤੇ ਤਣਾਅ ਵਾਲੇ ਸਨ।
ਨਿਰੀਖਣ ਅਤੇ ਟੈਸਟਿੰਗ
ਜੋੜਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਨੇਤਰਹੀਣ ਅਤੇ ਤਰਲ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਅਤੇ ਰੇਡੀਓਗ੍ਰਾਫੀ ਦੁਆਰਾ ਨਿਰੀਖਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਆਮ ਵੇਲਡਾਂ ਦਾ ਆਕਸੀਜਨ ਅਤੇ ਨਾਈਟ੍ਰੋਜਨ (ਟੇਬਲ 2) ਲਈ ਰਸਾਇਣਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਅਤੇ ਪੂਰੇ ਅਧਿਐਨ ਦੌਰਾਨ ਵਿਆਪਕ ਮੈਟਾਲੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਪ੍ਰੀਖਿਆਵਾਂ ਕੀਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਸਨ।
ਇਸਦੀ ਅੰਦਰੂਨੀ ਸਾਦਗੀ ਅਤੇ ਛੋਟੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਲਈ ਅਨੁਕੂਲਤਾ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਮੋੜ ਟੈਸਟ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਸੰਯੁਕਤ ਅਖੰਡਤਾ ਅਤੇ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਲਈ ਪ੍ਰਾਇਮਰੀ ਮਾਪਦੰਡ ਵਜੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ। ਡਕਟਾਈਲ-ਟੌਬਰਿਟਲ ਪਰਿਵਰਤਨ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ ਜੋੜਾਂ ਲਈ ਤਿੰਨ-ਬਿੰਦੂ ਝੁਕਣ ਵਾਲੇ ਯੰਤਰ ਨਾਲ ਨਿਰਧਾਰਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਜਿਵੇਂ-ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਬੁਢਾਪੇ ਤੋਂ ਬਾਅਦ। ਮੋੜ ਟੈਸਟਾਂ ਲਈ ਮੂਲ ਨਮੂਨਾ ਲੰਬਕਾਰੀ ਸੀ

ਚਿਹਰਾ ਮੋੜ, 24t ਲੰਬਾ ਗੁਣਾ 12t ਚੌੜਾ, ਜਿੱਥੇ t ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਮੋਟਾਈ ਹੈ। ਨਮੂਨੇ ਇੱਕ 15t ਸਪੈਨ 'ਤੇ ਸਮਰਥਿਤ ਸਨ ਅਤੇ 0.5 ipm ਦੀ ਦਰ ਨਾਲ ਰੇਡੀਅਸ 4t ਦੇ ਪਲੰਜਰ ਨਾਲ ਝੁਕੇ ਹੋਏ ਸਨ। ਇਹ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਮੋਟਾਈ 'ਤੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਡੇਟਾ ਨੂੰ ਸਧਾਰਣ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਪ੍ਰੇਰਦੀ ਹੈ। ਨਮੂਨੇ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵੇਲਡ, ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਅਤੇ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੀ ਇਕਸਾਰ ਵਿਗਾੜ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਨ ਲਈ ਵੇਲਡ ਸੀਮ (ਲੰਬਾਈ ਵਾਲੇ ਮੋੜ ਦੇ ਨਮੂਨੇ) ਵੱਲ ਝੁਕੇ ਹੋਏ ਸਨ; ਹਾਲਾਂਕਿ, ਤੁਲਨਾ ਲਈ ਕੁਝ ਨਮੂਨੇ ਵੇਲਡ ਸੀਮ (ਟਰਾਸਵਰਸ ਮੋੜ ਨਮੂਨੇ) ਦੇ ਨਾਲ ਝੁਕੇ ਹੋਏ ਸਨ। ਜਾਂਚ ਦੇ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਹਿੱਸਿਆਂ ਵਿੱਚ ਚਿਹਰੇ ਦੇ ਮੋੜਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ; ਹਾਲਾਂਕਿ, ਪਿਘਲੀ ਹੋਈ ਧਾਤ ਦੇ ਭਾਰ ਦੇ ਕਾਰਨ ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਵੇਲਡਾਂ ਦੇ ਫੇਸ 'ਤੇ ਮਾਮੂਲੀ ਨਿਸ਼ਾਨ ਪਾਏ ਜਾਣ ਕਾਰਨ, ਬਾਅਦ ਦੇ ਟੈਸਟਾਂ ਵਿੱਚ ਰੂਟ ਮੋੜਾਂ ਨੂੰ ਬਦਲ ਦਿੱਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਸ਼ੀਟ ਦੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਮੋੜ ਜਾਂਚ ਨਾਲ ਸਬੰਧਤ ਸਮੱਗਰੀ ਸਲਾਹਕਾਰ ਬੋਰਡ 6 ਦੀਆਂ ਸਿਫ਼ਾਰਸ਼ਾਂ ਦਾ ਜਿੰਨਾ ਸੰਭਵ ਹੋ ਸਕੇ ਪਾਲਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਸੀਮਤ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਸਭ ਤੋਂ ਛੋਟੇ ਸਲਾਹ ਵਾਲੇ ਨਮੂਨੇ ਚੁਣੇ ਗਏ ਸਨ।
ਮੋੜ ਪਰਿਵਰਤਨ ਦਾ ਤਾਪਮਾਨ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ, ਝੁਕਣ ਵਾਲੇ ਯੰਤਰ ਨੂੰ ਇੱਕ ਭੱਠੀ ਵਿੱਚ ਬੰਦ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਜੋ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ 500 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਵਧਾਉਣ ਵਿੱਚ ਸਮਰੱਥ ਸੀ। 90 ਤੋਂ 105 ਡਿਗਰੀ ਦੇ ਇੱਕ ਮੋੜ ਨੂੰ ਇੱਕ ਪੂਰਾ ਮੋੜ ਮੰਨਿਆ ਜਾਂਦਾ ਸੀ। ਡੀਬੀਟੀਟੀ ਨੂੰ ਸਭ ਤੋਂ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਵਜੋਂ ਪਰਿਭਾਸ਼ਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਜਿਸ 'ਤੇ ਸਪੀਮੈਨ ਬਿਨਾਂ ਕ੍ਰੇਕਿੰਗ ਦੇ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਝੁਕਦਾ ਹੈ। ਹਾਲਾਂਕਿ ਟੈਸਟ ਹਵਾ ਵਿੱਚ ਕਰਵਾਏ ਗਏ ਸਨ, ਪਰ ਜਦੋਂ ਤੱਕ ਟੈਸਟ ਦਾ ਤਾਪਮਾਨ 400 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਨਹੀਂ ਪਹੁੰਚ ਜਾਂਦਾ ਸੀ, ਉਦੋਂ ਤੱਕ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਰੰਗਤ ਸਪੱਸ਼ਟ ਨਹੀਂ ਸੀ।

ਚਿੱਤਰ 1

Unalloyed Tungsten ਲਈ ਨਤੀਜੇ
ਜਨਰਲ ਵੇਲਡਬਿਲਟੀ
ਗੈਸ ਟਰਜ਼ਗਸਟੀਆ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ—1乍in ਦੀ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ। ਮੋਟੀ ਅਨਲੌਇਡ ਸ਼ੀਟ, ਥਰਮਲ ਸਦਮੇ ਦੁਆਰਾ ਪ੍ਰੇਰਿਤ ਤਣਾਅ ਦੇ ਅਧੀਨ ਭੁਰਭੁਰਾ ਅਸਫਲਤਾ ਨੂੰ ਰੋਕਣ ਲਈ ਕੰਮ ਨੂੰ ਕਾਫ਼ੀ ਹੱਦ ਤੱਕ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਗਰਮ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਚਿੱਤਰ 2 ਸਹੀ ਪ੍ਰੀਹੀਟਿੰਗ ਦੇ ਬਿਨਾਂ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੁਆਰਾ ਪੈਦਾ ਕੀਤੇ ਇੱਕ ਆਮ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਤਾਪ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਦੇ ਵੱਡੇ ਅਨਾਜ ਦਾ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਕਮਰੇ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਤੋਂ 540 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਪ੍ਰੀਹੀਟਿੰਗ ਟਰਨ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਨੇ ਦਿਖਾਇਆ ਕਿ ਇੱਕ-ਪਾਸ ਬੱਟ ਵੇਲਡਾਂ ਦੇ ਨਿਰੰਤਰ ਉਤਪਾਦਨ ਲਈ ਘੱਟੋ ਘੱਟ 150 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਪ੍ਰੀਹੀਟਿੰਗ ਜ਼ਰੂਰੀ ਸੀ ਜੋ ਚੀਰ ਤੋਂ ਮੁਕਤ ਸਨ। ਇਹ ਤਾਪਮਾਨ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੇ DBTI ਨਾਲ ਮੇਲ ਖਾਂਦਾ ਹੈ। ਇਹਨਾਂ ਟੈਸਟਾਂ ਵਿੱਚ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨਾਂ 'ਤੇ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਗਰਮ ਕਰਨਾ ਜ਼ਰੂਰੀ ਨਹੀਂ ਜਾਪਦਾ ਸੀ ਪਰ ਇੱਕ ਉੱਚ DBTI ਵਾਲੀ ਸਮੱਗਰੀ, ਜਾਂ ਸੰਰਚਨਾਵਾਂ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਵਧੇਰੇ ਗੰਭੀਰ ਤਣਾਅ ਦੀ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਜਾਂ ਵਧੇਰੇ ਵੱਡੇ ਹਿੱਸੇ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਨੂੰ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨਾਂ ਲਈ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਗਰਮ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੋ ਸਕਦੀ ਹੈ।
ਵੇਲਡਮੈਂਟ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ ਬੇਸ ਧਾਤੂਆਂ ਨੂੰ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਵਰਤੀਆਂ ਜਾਣ ਵਾਲੀਆਂ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ 'ਤੇ ਬਹੁਤ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦੀ ਹੈ। ਆਰਕ-ਕਾਸਟ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਆਟੋਜੀਨਸ ਵੇਲਡ ਜ਼ਰੂਰੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਤੋਂ ਮੁਕਤ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਚਿੱਤਰ.
3A, ਪਰ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਕੁੱਲ ਪੋਰੋਸਿਟੀ, ਚਿੱਤਰ 3 (ਬੀ), ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਫਿਊਜ਼ਨ ਲਾਈਨ ਦੇ ਨਾਲ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਇਸ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਦੀ ਮਾਤਰਾ, ਚਿੱਤਰ 3B, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ 3C ਦੇ ਨਾਲ, ਮਲਕੀਅਤ ਵਾਲੇ, ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਉਤਪਾਦ (ਜਨਰਲ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਕੰਪਨੀ, ਕਲੀਵਲੈਂਡ ਦੁਆਰਾ ਨਿਰਮਿਤ GE-15) ਵਿੱਚ ਬਣੇ ਵੇਲਡਾਂ ਵਿੱਚ।
CVD ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਵੇਲਡਾਂ ਵਿੱਚ ਅਨਾਜ ਦੀ ਬਣਤਰ 0£ ਬੇਸ ਮੈਟਾਐਫ ਦੇ ਕਾਰਨ ਅਸਧਾਰਨ ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਚਿੱਤਰ 4 ਅਜਿਹੇ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬੱਟ ਵੇਲਡ ਦਾ ਚਿਹਰਾ ਅਤੇ ਅਨੁਸਾਰੀ ਕਰਾਸ ਸੈਕਸ਼ਨ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਨੋਟ ਕਰੋ ਕਿ ਸਬਸਟਰੇਟ ਸਤਹ 'ਤੇ ਬਰੀਕ ਦਾਣੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਗਰਮੀ ਕਾਰਨ ਵਧੇ ਹਨ। ਵੱਡੇ ਕਾਲਮ ਦੇ ਵਾਧੇ ਦੀ ਕਮੀ ਵੀ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹੈ

ਅਨਾਜ ਕਾਲਮ ਦੇ ਦਾਣਿਆਂ ਵਿੱਚ ਗੈਸ ਹੁੰਦੀ ਹੈ
ਫਲੋਰਮ ਅਸ਼ੁੱਧੀਆਂ ਦੇ ਕਾਰਨ ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ 'ਤੇ bubb_les. ਸਿੱਟੇ ਵਜੋਂ, ਜੇ
ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਬਾਰੀਕ ਅਨਾਜ ਸਬਸਟਰੇਟ ਸਤਹ ਨੂੰ ਹਟਾ ਦਿੱਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਵੈਲਡਮੈਂਟ ਵਿੱਚ ਮੈਟਲੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਖੋਜਣ ਯੋਗ ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਸ਼ਾਮਲ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਬੇਸ਼ੱਕ, ਕੰਮ ਕੀਤੀ CVD ਸਮੱਗਰੀ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਬਾਹਰ ਕੱਢੀ ਜਾਂ ਖਿੱਚੀ ਗਈ ਟਿਊਬਿੰਗ) ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਦੇ ਤਾਪ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਵਿੱਚ ਆਮ ਰੀਕ੍ਰਿਸਟਾਲਾਈਜ਼ਡ ਅਨਾਜ ਬਣਤਰ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।
CVD ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਕਈ ਵੇਲਡਾਂ ਦੇ RAZ ਵਿੱਚ ਕਾਲਮ ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਚੀਰ ਪਾਈਆਂ ਗਈਆਂ ਸਨ। ਇਹ ਚੀਰਨਾ, ਚਿੱਤਰ 5 ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ, ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ 9 'ਤੇ ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਬੁਲਬੁਲੇ ਦੇ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਗਠਨ ਅਤੇ ਵਾਧੇ ਕਾਰਨ ਹੋਇਆ ਸੀ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਸ਼ਾਮਲ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨਾਂ 'ਤੇ, ਬੁਲਬਲੇ ਅਨਾਜ ਦੇ ਸੀਮਾ ਵਾਲੇ ਖੇਤਰ ਦਾ ਬਹੁਤ ਸਾਰਾ ਹਿੱਸਾ ਲੈਣ ਦੇ ਯੋਗ ਸਨ; ਇਹ, ਕੂਲਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਪੈਦਾ ਹੋਏ ਤਣਾਅ ਦੇ ਨਾਲ ਮਿਲ ਕੇ, ਇੱਕ ਦਰਾੜ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ ਨੂੰ ਵੱਖ ਕਰ ਦਿੰਦਾ ਹੈ। ਗਰਮੀ ਦੇ ਇਲਾਜ ਦੌਰਾਨ ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਹੋਰ ਧਾਤ ਦੇ ਭੰਡਾਰਾਂ ਵਿੱਚ ਬੁਲਬੁਲੇ ਦੇ ਗਠਨ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ ਕਿ 0.3 Tm (ਸਮਰੂਪ ਪਿਘਲਣ ਦਾ ਤਾਪਮਾਨ) ਤੋਂ ਹੇਠਾਂ ਜਮ੍ਹਾਂ ਧਾਤਾਂ ਵਿੱਚ ਬੁਲਬੁਲੇ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਇਹ ਨਿਰੀਖਣ ਸੁਝਾਅ ਦਿੰਦਾ ਹੈ ਕਿ ਐਨੀਲਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਫਸੀਆਂ ਖਾਲੀ ਥਾਂਵਾਂ ਅਤੇ ਗੈਸਾਂ ਦੇ ਇਕੱਠੇ ਹੋਣ ਨਾਲ ਗੈਸ ਦੇ ਬੁਲਬੁਲੇ ਬਣਦੇ ਹਨ। ਸੀਵੀਡੀ ਟੰਗਸਟਨ ਦੇ ਮਾਮਲੇ ਵਿੱਚ, ਗੈਸ ਸ਼ਾਇਦ ਫਲੋਰਾਈਨ ਜਾਂ ਫਲੋਰਾਈਡ ਮਿਸ਼ਰਣ ਹੈ
ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ—ਅਨਲੌਇਡ ਟੰਗਸਟਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨ ਬੀਮ ਨੂੰ ਪ੍ਰੀਹੀਟਿੰਗ ਦੇ ਨਾਲ ਅਤੇ ਬਿਨਾਂ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਸੀ। ਪ੍ਰੀਹੀਟ ਦੀ ਲੋੜ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਨਾਲ ਵੱਖਰੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਤਰੇੜਾਂ ਤੋਂ ਮੁਕਤ ਵੇਲਡ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ, ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੇ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ DBTT ਤੱਕ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਗਰਮ ਕਰਨ ਦੀ ਸਿਫਾਰਸ਼ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ। ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ ਉਤਪਾਦਾਂ ਵਿੱਚ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਬੀਮ ਵੇਲਡਾਂ ਵਿੱਚ ਪਹਿਲਾਂ ਜ਼ਿਕਰ ਕੀਤੀ ਗਈ ਵੇਲਡ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਵੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।

ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ一ਇਹ ਸਥਾਪਤ ਕਰਨ ਦੀ ਕੋਸ਼ਿਸ਼ ਵਿੱਚ ਕਿ ਕੀ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਫਾਇਦੇ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਅਸੀਂ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਸ਼ੀਟ 'ਤੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਗੈਸ ਟੰਗਸਟੇਨਰਕ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਨਾਲ ਪ੍ਰਯੋਗ ਕੀਤਾ、 ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਨੂੰ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਦੇ ਨਾਲ ਪਹਿਲਾਂ ਤੋਂ ਲਗਾ ਕੇ ਬਣਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਿਲਵਿੰਗ ਅੱਗੇ ਬੱਟ ਜੁਆਇੰਟ. ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਨੂੰ ਭਰਨ ਵਾਲੀ ਧਾਤੂਆਂ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਅਣਐਲੋਏਡ Nb, Ta, Mo, Re, ਅਤੇ W-26% Re ਨਾਲ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਉਮੀਦ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਸੀ, ਸਾਰੇ ਜੋੜਾਂ (ਚਿੱਤਰ 6) ਦੇ ਮੈਟਲੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਭਾਗਾਂ ਵਿੱਚ ਫਿਊਜ਼ਨ ਲਾਈਨ 'ਤੇ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਸੀ ਕਿਉਂਕਿ ਬੇਸ ਧਾਤਾਂ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਉਤਪਾਦ ਸਨ। ਨਾਈਓਬੀਅਮ ਅਤੇ ਮੋਲੀਬਡੇਨਮ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਨਾਲ ਬਣੇ ਵੇਲਡ ਫਟ ਗਏ।
ਵੇਲਡਾਂ ਅਤੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਕਠੋਰਤਾ ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਬੇਲੋਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਅਤੇ ਡਬਲਯੂ一26% ਰੀ ਨਾਲ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਬਣੇ ਬੀਡ-ਆਨ-ਪਲੇਟ ਵੇਲਡਾਂ ਦੇ ਅਧਿਐਨ ਦੁਆਰਾ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ। ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨਰਕ ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਬਿਨਾਂ ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਉਤਪਾਦਾਂ (ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ, ਮਲਕੀਅਤ (GE-15) ਗ੍ਰੇਡ ਅਤੇ ਇੱਕ ਆਮ ਵਪਾਰਕ ਗ੍ਰੇਡ) 'ਤੇ ਹੱਥੀਂ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸਨ। ਹਰੇਕ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਉਮਰ 900, 1200, 1600 ਅਤੇ 2000° C ਲਈ l, 10, 100 ਅਤੇ 1000 hr ਲਈ ਸੀ। ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਜਾਂਚ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ, ਅਤੇ ਕਠੋਰਤਾ ਟ੍ਰੈਵਰਸ ਨੂੰ ਵੇਲਡ, ਹੀਟ ​​ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ, ਅਤੇ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੋਵਾਂ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਅਤੇ ਗਰਮੀ ਦੇ ਇਲਾਜ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਲਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।

ਸਾਰਣੀ 2

ਚਿੱਤਰ 2

ਕਿਉਂਕਿ ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਵਰਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਉਤਪਾਦ ਸਨ, ਇਸ ਲਈ ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਡਿਪਾਜ਼ਿਟ ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਮਾਤਰਾ ਵਿੱਚ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਮੌਜੂਦ ਸੀ। ਦੁਬਾਰਾ ਫਿਰ, ਆਮ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਨਾਲ ਬਣੇ ਜੋੜਾਂ ਵਿੱਚ ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ, ਮਲਕੀਅਤ ਵਾਲੇ ਟੰਗਸਟਨ ਨਾਲ ਬਣੇ ਜੋੜਾਂ ਨਾਲੋਂ ਵਧੇਰੇ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਸੀ। ਡਬਲਯੂ—26% ਰੀ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਨਾਲ ਬਣੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਗੈਰ-ਅਲਲੌਇਡ ਟੰਗਸਟਨ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਨਾਲ ਬਣੇ ਵੇਲਡਾਂ ਨਾਲੋਂ ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਸੀ।
ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਅਣ-ਅਲੋਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਨਾਲ ਬਣੇ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਕਠੋਰਤਾ 'ਤੇ ਸਮੇਂ ਜਾਂ ਤਾਪਮਾਨ ਦਾ ਕੋਈ ਪ੍ਰਭਾਵ ਨਹੀਂ ਦੇਖਿਆ ਗਿਆ। ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਬੇਸ ਧਾਤੂਆਂ ਦੇ ਕਠੋਰਤਾ ਮਾਪ ਜ਼ਰੂਰੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਥਿਰ ਸਨ ਅਤੇ ਉਮਰ ਵਧਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਨਹੀਂ ਬਦਲਦੇ ਸਨ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਡਬਲਯੂ—26% ਰੀ ਫਿਲਰ ਮੈਟਲ ਨਾਲ ਬਣੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਬੇਸ ਮੈਟਲ (ਚਿੱਤਰ 7) ਨਾਲੋਂ ਕਾਫ਼ੀ ਸਖ਼ਤ ਸਨ। ਸੰਭਵ ਤੌਰ 'ਤੇ W-Re br立e ਵੇਲਡ ਡਿਪਾਜ਼ਿਟ ਦੀ ਉੱਚ ਕਠੋਰਤਾ ਠੋਸ ਘੋਲ ਦੇ ਸਖ਼ਤ ਹੋਣ ਅਤੇ/ਜਾਂ ਠੋਸ ਢਾਂਚੇ ਵਿੱਚ ਬਾਰੀਕ ਵੰਡੇ ਗਏ er ਪੜਾਅ ਦੀ ਮੌਜੂਦਗੀ ਦੇ ਕਾਰਨ ਸੀ। ਟੰਗਸਟਨਰੇਨਿਅਮ ਪੜਾਅ ਚਿੱਤਰ 11 ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ ਕਿ ਉੱਚ ਰੇਨੀਅਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਸਥਾਨਿਕ ਖੇਤਰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਠੰਢਾ ਹੋਣ ਦੇ ਦੌਰਾਨ ਹੋ ਸਕਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਵੱਖਰੇ ਢਾਂਚੇ ਵਿੱਚ ਸਖ਼ਤ, ਭੁਰਭੁਰਾ ਪੜਾਅ ਬਣ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਸੰਭਵ ਤੌਰ 'ਤੇ ER ਪੜਾਅ ਅਨਾਜ ਜਾਂ ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਬਾਰੀਕ ਖਿੰਡਿਆ ਹੋਇਆ ਸੀ, ਹਾਲਾਂਕਿ ਕੋਈ ਵੀ ਇੰਨਾ ਵੱਡਾ ਨਹੀਂ ਸੀ ਕਿ ਮੈਟਾਲੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਜਾਂਚ ਜਾਂ ਐਕਸ-ਰੇ ਵਿਭਿੰਨਤਾ ਦੁਆਰਾ ਪਛਾਣਿਆ ਜਾ ਸਕੇ।
ਕਠੋਰਤਾ ਨੂੰ ਚਿੱਤਰ 7A ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਉਮਰ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨਾਂ ਲਈ ਬ੍ਰੇਜ਼-ਵੇਲਡ ਸੈਂਟਰ ਲਾਈਨ ਤੋਂ ਦੂਰੀ ਦੇ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਪਲਾਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ। ਅਚਾਨਕ ਤਬਦੀਲੀ ਵੱਲ ਧਿਆਨ ਦਿਓ

ਫਿਊਜ਼ਨ ਲਾਈਨ 'ਤੇ ਕਠੋਰਤਾ ਵਿੱਚ. ਵਧਦੀ ਉਮਰ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਨਾਲ, ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਦੀ ਕਠੋਰਤਾ ਉਦੋਂ ਤੱਕ ਘੱਟ ਜਾਂਦੀ ਹੈ ਜਦੋਂ ਤੱਕ, J 600° C 'ਤੇ 100 ਘੰਟੇ ਬਾਅਦ, ਕਠੋਰਤਾ ਗੈਰ-ਅਲੋਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੇ ਸਮਾਨ ਸੀ। ਵਧਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਨਾਲ ਕਠੋਰਤਾ ਘਟਣ ਦਾ ਇਹ ਰੁਝਾਨ ਹਰ ਉਮਰ ਦੇ ਸਮੇਂ ਲਈ ਸਹੀ ਹੈ। ਇੱਕ ਸਥਿਰ ਤਾਪਮਾਨ 'ਤੇ ਸਮਾਂ ਵਧਣ ਨਾਲ ਕਠੋਰਤਾ ਵਿੱਚ ਵੀ ਸਿਮੀਜਾਰ ਦੀ ਕਮੀ ਆਉਂਦੀ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਚਿੱਤਰ 7B ਵਿੱਚ 1200° C ਦੇ ਵਧਦੇ ਤਾਪਮਾਨ ਲਈ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।
ਰਸਾਇਣਕ ਵਾਸ਼ਪ ਜਮ੍ਹਾ ਦੁਆਰਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੋਣਾ — ਸੀਵੀਡੀ ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੁਆਰਾ ਟੰਗਸਟਨ ਨੂੰ ਜੋੜਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਨਮੂਨੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨਾਂ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਇੱਕ ਵਿਧੀ ਵਜੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ। ਲੋੜੀਂਦੇ ਖੇਤਰਾਂ ਤੱਕ ਜਮ੍ਹਾਂ ਨੂੰ ਸੀਮਤ ਕਰਨ ਲਈ ਢੁਕਵੇਂ ਫਿਕਸਚਰ ਅਤੇ ਮਾਸਕ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ, ਸੀਵੀਡੀ ਅਤੇ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਸ਼ੀਟਾਂ ਨੂੰ ਜੋੜਿਆ ਗਿਆ ਸੀ ਅਤੇ ਟਿਊਬਿੰਗ ਦੇ ਅੰਤ ਵਿੱਚ ਬੰਦ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ। ਲਗਭਗ 90 ਡਿਗਰੀ ਦੇ ਇੱਕ ਸ਼ਾਮਲ ਕੋਣ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਬੇਵਲ ਵਿੱਚ ਜਮ੍ਹਾਂ ਹੋਣ ਨਾਲ ਕ੍ਰੈਕਿੰਗ ਪੈਦਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਚਿੱਤਰ 8A, ਬੇਵਲ ਅਤੇ ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੇ ਇੱਕ ਚਿਹਰੇ ਤੋਂ ਉੱਗਦੇ ਕਾਲਮ ਦੇ ਦਾਣਿਆਂ ਦੇ ਚੌਰਾਹੇ 'ਤੇ (ਜੋ ਕਿ ਨੱਕਾਸ਼ੀ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ)। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਬਿਨਾਂ ਕ੍ਰੈਕਿੰਗ ਜਾਂ ਅਸ਼ੁੱਧੀਆਂ ਦੇ ਕੁੱਲ ਨਿਰਮਾਣ ਦੇ ਉੱਚ ਅਖੰਡਤਾ ਵਾਲੇ ਜੋੜ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਚਿੱਤਰ 8B, ਜਦੋਂ ਸੰਯੁਕਤ ਸੰਰਚਨਾ ਨੂੰ ਬੇਸ ਮੈਟਲ ਦੇ ਚਿਹਰੇ ਨੂੰ 飞in ਦੇ ਘੇਰੇ ਵਿੱਚ ਪੀਸ ਕੇ ਬਦਲਿਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਵੇਲਡ ਦੀ ਜੜ੍ਹ ਨੂੰ ਸਪਰਸ਼. ਬਾਲਣ ਤੱਤਾਂ ਦੇ ਨਿਰਮਾਣ ਵਿੱਚ ਇਸ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੀ ਇੱਕ ਆਮ ਵਰਤੋਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ, ਟੰਗਸਟਨ ਟਿਊਬਾਂ ਵਿੱਚ ਕੁਝ ਸਿਰੇ ਬੰਦ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ। ਹੀਲੀਅਮ ਮਾਸ ਸਪੈਕਟਰੋਰ: ਈਟਰ ਲੀਕ ਡਿਟੈਕਟਰ ਨਾਲ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਜਾਣ 'ਤੇ ਇਹ ਜੋੜ ਲੀਕ-ਤੰਗ ਸਨ।

ਚਿੱਤਰ 3

ਚਿੱਤਰ 4

ਚਿੱਤਰ 5

ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ
ਫਿਊਜ਼ਨ ਵੈਲਡਜ਼ ਦੇ ਮੋੜ ਟੈਸਟਾਂ ਨੂੰ ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਜੋੜਾਂ ਲਈ ਨਕਲੀ-ਤੋਂ-ਭੁਰਭੁਰਾ ਪਰਿਵਰਤਨ ਕਰਵ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ। ਚਿੱਤਰ 9 ਵਿੱਚ ਵਕਰ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ ਕਿ ਦੋ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਅਧਾਰ ਧਾਤੂਆਂ ਦਾ DBTT ਲਗਭਗ I 50° C ਸੀ। ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਦੋਵਾਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦਾ DBTT (ਸਭ ਤੋਂ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਜਿਸ 'ਤੇ 90 ਤੋਂ 105 ਡਿਗਰੀ ਮੋੜ ਬਣਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ) ਬਹੁਤ ਵਧ ਗਿਆ। . ਪਰਿਵਰਤਨ ਤਾਪਮਾਨ ਆਮ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਲਈ ਲਗਭਗ 175° C ਦੇ ਮੁੱਲ ਨੂੰ 325° C ਤੱਕ ਵਧਾਇਆ ਗਿਆ ਅਤੇ ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ, ਮਲਕੀਅਤ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ ਲਗਭਗ 235° C ਦੇ ਮੁੱਲ ਨੂੰ 385° C ਤੱਕ ਵਧਾਇਆ ਗਿਆ। ਵੇਲਡ ਅਤੇ ਅਨਵੈਲਡ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਡੀਬੀਟੀਟੀ ਵਿੱਚ ਅੰਤਰ ਦਾ ਕਾਰਨ ਵੱਡੇ ਅਨਾਜ ਦੇ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਵੇਲਡਾਂ ਅਤੇ ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨਾਂ ਦੀਆਂ ਅਸ਼ੁੱਧੀਆਂ ਦੀ ਸੰਭਾਵਤ ਮੁੜ ਵੰਡ ਨੂੰ ਮੰਨਿਆ ਗਿਆ ਸੀ। ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹਨ ਕਿ ਆਮ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਵੇਲਡਾਂ ਦੀ ਡੀਬੀਟੀਟੀ ਮਲਕੀਅਤ ਸਮੱਗਰੀ ਨਾਲੋਂ ਘੱਟ ਸੀ, ਭਾਵੇਂ ਬਾਅਦ ਵਿੱਚ ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਸੀ। ਘੱਟ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਵੇਲਡ ਦੀ ਉੱਚ ਡੀਬੀਟੀਟੀ ਇਸਦੇ ਥੋੜੇ ਜਿਹੇ ਵੱਡੇ ਅਨਾਜ ਦੇ ਆਕਾਰ, ਚਿੱਤਰ 3A ਅਤੇ 3C ਦੇ ਕਾਰਨ ਹੋ ਸਕਦੀ ਹੈ।
ਅਲੌਏਡ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਕਈ ਜੋੜਾਂ ਲਈ ਡੀਬੀਟੀਟੀ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਜਾਂਚ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਸਾਰਣੀ 3 ਵਿੱਚ ਦਿੱਤੇ ਗਏ ਹਨ। ਮੋੜ ਦੇ ਟੈਸਟ ਟੈਸਟਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਿੱਚ ਤਬਦੀਲੀਆਂ ਲਈ ਕਾਫ਼ੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲ ਸਨ। ਰੂਟ ਮੋੜ ਚਿਹਰੇ ਦੇ ਮੋੜਾਂ ਨਾਲੋਂ ਵਧੇਰੇ ਨਰਮ ਦਿਖਾਈ ਦਿੰਦੇ ਹਨ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਇੱਕ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਚੁਣੀ ਗਈ ਤਣਾਅ ਰਾਹਤ DBTT ਨੂੰ ਕਾਫੀ ਹੱਦ ਤੱਕ ਘੱਟ ਕਰਦੀ ਦਿਖਾਈ ਦਿੱਤੀ। CVD ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਵੇਲਡ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ, ਸਭ ਤੋਂ ਉੱਚਾ DBTT (560℃)；ਫਿਰ ਵੀ ਜਦੋਂ ਇਸਨੂੰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਬਾਅਦ 1000℃ ਦੀ 1 ਘੰਟੇ ਦੀ ਤਣਾਅ ਰਾਹਤ ਦਿੱਤੀ ਗਈ ਸੀ, ਤਾਂ ਇਸਦਾ DBTT 350℃ ਤੱਕ ਡਿੱਗ ਗਿਆ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਤੋਂ ਬਾਅਦ 1000° C ਦੀ ਤਣਾਅ ਤੋਂ ਰਾਹਤ, ਇਸਦਾ DBTT 350° C 'ਤੇ ਆ ਗਿਆ। 18000 C 'ਤੇ 1 ਘੰਟੇ ਲਈ ਚਾਪ ਵੇਲਡ ਪਾਊਡਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਦੀ ਤਣਾਅ ਰਾਹਤ ਨੇ ਇਸ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ DBTT ਨੂੰ ਇਸਦੇ ਲਈ ਨਿਰਧਾਰਤ ਮੁੱਲ ਤੋਂ ਲਗਭਗ 100° C ਘਟਾ ਦਿੱਤਾ ਜਿਵੇਂ- welded. CVD ਵਿਧੀਆਂ ਦੁਆਰਾ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸੰਯੁਕਤ 'ਤੇ 1000° C 'ਤੇ 1 ਘੰਟੇ ਦੀ ਤਣਾਅ ਤੋਂ ਰਾਹਤ ਸਭ ਤੋਂ ਘੱਟ DBTT (200° C) ਪੈਦਾ ਕਰਦੀ ਹੈ। ਇਹ ਨੋਟ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਕਿ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਇਹ ਪਰਿਵਰਤਨ ਟਰਨਪਰਚਰ ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਕਿਸੇ ਵੀ ਹੋਰ ਪਰਿਵਰਤਨ ਤਾਪਮਾਨ ਨਾਲੋਂ ਕਾਫ਼ੀ ਘੱਟ ਸੀ, ਸੁਧਾਰ ਸ਼ਾਇਦ ਸੀਵੀਡੀ ਜੋੜਾਂ ਦੇ ਟੈਸਟਾਂ ਵਿੱਚ ਵਰਤੀ ਗਈ ਘੱਟ ਤਣਾਅ ਦਰ (0.1 ਬਨਾਮ 0.5 ਆਈਪੀਐਮ) ਦੁਆਰਾ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਸੀ।

Nb ਨਾਲ ਬਣੇ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ-ਗੈਸ ਟੰਗਸਟਨ-ਆਰਕ ਬ੍ਰੇਜ਼ ਵੇਲਡਾਂ ਦਾ ਮੋੜ ਟੈਸਟ। Ta, Mo, Re, ਅਤੇ W-26% Re ਦੀ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਵੀ ਮੋੜਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ ਅਤੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੂੰ ਸਾਰਣੀ 4 ਵਿੱਚ ਸੰਖੇਪ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ। ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਲਚਕਤਾ ਇੱਕ ਰੇਨੀਅਮ ਬਰੇਜ਼ ਵੇਲਡ ਨਾਲ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ।

ਹਾਲਾਂਕਿ ਇਸ ਕਰਸਰੀ ਅਧਿਐਨ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ ਕਿ ਇੱਕ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਫਿਲਰ ਧਾਤੂ ਟੰਗਸਟਨ ਵਿੱਚ ਸਮਰੂਪ ਵੇਲਡਾਂ ਦੇ ਅੰਦਰਲੇ ਹਿੱਸੇ ਵਿੱਚ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਾਲੇ ਜੋੜ ਪੈਦਾ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਇਹਨਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਕੁਝ ਫਿਲਰ ਧਾਤਾਂ ਅਭਿਆਸ ਵਿੱਚ ਉਪਯੋਗੀ ਹੋ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ।

Tungsten Alloys ਲਈ ਨਤੀਜੇ.